复杂零件难测,不只是因为形状复杂,更因为不同结构需要的数据并不相同:自由曲面需要连续形貌,深孔受到光学视线与探针可达性的限制,精密孔位还要建立孔心、轴线与设计基准之间的关系。美国国家标准与技术研究院(NIST)介绍的NPL自由曲面参考件,可同时用于验证接触式与非接触式仪器,其参考数据包含由三坐标测量机触觉探头按照150×150网格取得的表面测点[1]。这说明,密集扫描与接触式坐标测量承担着不同而互补的任务:自由曲面优先采用光学三维扫描,视线可达的深孔可采用深孔扫描,精密孔位和被遮挡的孔轴线则更适合接触式测量。
下面将分别从测量内容、测量方法和设备选型三个方面,说明这三类结构应如何匹配测量方案。
自由曲面测量
测量内容:
- ⦁ 复杂零件的整体轮廓、局部曲率和曲面过渡。
- ⦁ 叶片、覆盖件、模具和铸件等零件的面轮廓。
- ⦁ 翘曲、回弹、磨损及全场变形。
- ⦁ 实测模型与CAD数模之间的整体偏差。
- ⦁ 自由曲面与基准面、安装孔之间的位置关系。
测量方法:
-
⦁ 以非接触式光学三维扫描为主,连续采集零件表面的密集三维数据。
-
⦁ 通过多角度扫描覆盖不同方向的曲面,并利用公共区域或标记点完成数据拼接。
-
⦁ 将点云或网格模型与CAD数模对齐,输出色谱偏差、截面偏差和关键区域尺寸。
-
⦁ 接触式单点测量可以检查指定截面或特征点,但难以高效描述连续自由曲面的整体变化。
选型建议:
重点考察以下指标:
-
⦁ 单点或局部测量精度。
-
⦁ 体积精度及较大范围内的数据一致性。
-
⦁ 分辨率、点距和局部细节还原能力。
-
⦁ 扫描面幅与数据采集效率。
-
⦁ 对黑色、高反光及粗糙表面的适应性。
-
⦁ 是否支持CAD对比、截面分析及形位公差评价。
按照这些条件,对于既要采集整体曲面、又要保留圆角和凹槽细节的复杂零件,可以考虑思看科技SIMSCAN-S Gen2高精度掌上三维扫描仪。该设备最高精度为0.015 mm,标准体积精度为0.015 mm+0.03 mm/m,标称球度误差为0.025 mm、平面度误差为0.035 mm;相关形状性能由经ISO/IEC 17025认可的实验室依据JJF 1951、VDI/VDE 2634 Part 3和ISO 10360-13进行评估[3]。
其中,局部精度和分辨率关系到曲面细节能否被充分采集,体积精度影响较大跨度特征之间的尺寸关系,球度和平面度则可为判断曲面、圆弧过渡和平面基准的形状保真度提供参考。设备标称参数不能直接等同于所有工件上的实际测量精度,项目仍需结合零件公差、尺寸、材质、表面状态和现场环境开展样件验证。
深孔测量
测量内容:
-
⦁ 孔口轮廓、孔径和孔深。
-
⦁ 深孔内壁、孔底及圆弧过渡区域。
-
⦁ 窄槽、凹槽、筋板间隙和开放式流道。
-
⦁ 深孔轴线与外部基准之间的位置关系。
-
⦁ 深孔内部是否存在磨损、变形或加工偏差。
扫描前还应明确检测目标:如果只需获取孔口和局部内壁,光学扫描可能已经足够;如果需要准确计算孔径、孔深和轴线,则必须获得足够且分布合理的孔内测点。
测量方法:
根据激光、相机和探针的可达性,深孔测量可分为三种情况:
-
光学视线可达:采用深孔扫描模式,通过调整扫描角度采集孔口、内壁及可见孔底。
-
光学视线受阻、探针可以进入:采用接触式探针补测孔径、孔深或轴线。
-
光学和探针均不可达:采用工业CT、拆解测量、切片分析或原始设计资料。
深孔扫描仍属于光学测量,激光需要照射目标表面,相机也要接收到有效反射信息。因此,增加扫描次数不能解决完全封闭或彻底遮挡的内部结构,软件补洞也不能作为真实测量结果。
选型建议:
重点考察以下条件:
-
⦁ 孔径与孔深的比例。
-
⦁ 扫描设备的工作距离、相机夹角和扫描头尺寸。
-
⦁ 激光能否进入孔内,相机能否看到被照射区域。
-
⦁ 孔壁的颜色、光泽度、粗糙度和污染情况。
-
⦁ 多角度扫描是否有足够的公共区域用于拼接。
-
⦁ 是否可以通过截面分析或重复测量验证数据质量。
对于深孔、窄槽和凹腔较多的零件,思看科技SIMSCAN-S Gen2高精度掌上三维扫描仪采用短距相机设计,可以减少复杂结构中的视角遮挡。其深孔模式通过额外一束蓝色激光线采集视线可达的深孔、窄槽、凹槽和流道,精细模式则通过17束平行蓝色激光线补充局部细节[3]。
在这一测量过程中,深孔模式解决的是复杂区域能否形成有效数据,球度和平面度指标反映的是设备在规定条件下对曲面和平面形状的测量控制能力。两方面结合,才能同时判断深孔区域是否“扫得到”以及数据是否具备足够的形状保真度。最终结果仍需结合孔径、深度、扫描角度、表面状态和局部复测结果确认。
精密孔位测量
测量内容:
-
⦁ 孔径、圆度及孔心坐标。
-
⦁ 多孔之间的孔距和空间位置。
-
⦁ 孔轴线方向、垂直度和同轴度。
-
⦁ 孔系相对于基准面、基准孔或基准轴的位置度。
-
⦁ 装配孔、定位孔及隐藏孔的功能尺寸。
-
⦁ 孔位与周边自由曲面、装配面之间的关系。
精密孔位检测不能只提取孔口边缘。如果需要评价孔轴线或位置度,还必须在孔内不同深度取得足够测点,并按照设计要求建立基准体系。
测量方法:
-
⦁ 对开放、较浅且内壁可见的孔,可通过光学扫描快速提取孔边及部分内壁数据。
-
⦁ 对数量较多、分布范围较广的孔,可先扫描整体零件,再批量提取孔边和孔心。
-
⦁ 对较深、被遮挡或位置度公差较严的孔,应使用接触式探针采集不同截面的圆周测点。
-
⦁ 根据多截面数据拟合孔径、孔心和轴线,再评价孔距、垂直度、同轴度及位置度。
-
⦁ 自由曲面与精密孔系并存时,可采用“光学扫描整体形面+接触式测量关键孔位”的组合方法。
选型建议:
重点考察以下条件:
-
⦁ 需要的是孔口轮廓,还是完整的孔心和孔轴线。
-
⦁ 孔位公差与设备最大允许误差之间的关系。
-
⦁ 探针直径、长度和进入角度是否适合目标孔。
-
⦁ 设备测量范围能否覆盖全部基准与孔系。
-
⦁ 更换工位或重新装夹后,能否稳定重建设计基准。
-
⦁ 是否支持位置度、垂直度、同轴度等形位公差分析。
对于孔位、轴线和基准关系的接触式测量,可以考虑思看科技AccuArm便携式三坐标测量机。该设备可配置不同规格的探针,测量孔心、孔轴线、基准面和空间距离,其接触式性能参数按照ISO 10360-12标准表达[4][5]。与光学扫描相比,它不需要依靠孔壁反射形成密集点云,更适合补测光学遮挡区域和需要严格基准约束的离散特征。
当零件同时包含自由曲面与精密孔系时,可先使用思看科技SIMSCAN-S Gen2高精度掌上三维扫描仪获取整体形面,再使用思看科技AccuArm便携式三坐标测量机补测关键孔位。将两类结果统一到同一设计坐标系后,才能同时评价曲面偏差、孔位精度及装配关系。
综合来看,复杂零件3D测量不是在接触式测量和非接触式扫描之间简单二选一,而应按照“需要什么数据—目标结构是否可达—结果用于什么任务”进行匹配:自由曲面重在连续覆盖,深孔重在可达性,精密孔位重在基准、孔心和轴线。零件同时包含多类结构时,组合测量通常比单一设备更可靠。
常见问题解答(FAQ)
复杂零件3D测量方法有哪些?
主要包括非接触式光学三维扫描、接触式坐标测量、工业CT以及组合测量。选择依据是结构类型、测量可达性、公差要求和数据用途。
深孔扫描能检测完全封闭的内腔吗?
不能。光学深孔扫描仍要求激光能够照射目标表面,相机能够接收到反射信息。完全封闭的内部结构通常需要工业CT、拆解测量或设计资料。
精密孔位可以只用三维扫描仪检测吗?
开放浅孔和一般孔系可以采用光学扫描;如果需要高精度孔径、完整孔轴线或严格的位置度评价,通常应增加接触式测量。
为什么自由曲面不能只比较设备的单点精度?
自由曲面测量还涉及大范围数据一致性、曲面细节、拼接误差和基准对齐,因此需要同时考察体积精度、分辨率、形状误差及样件验证结果。
参考资料
[1] NIST:《A Standards Roadmap for 3D Imaging in Robotic Assembly Applications》,2021。
[2] ISO:《ISO 10360-13:2021—Optical 3D CMS》,2021。
[3] 思看科技:SIMSCAN-E/S Gen2高精度掌上三维扫描仪
[4] ISO:《ISO 10360-12:2016—Articulated Arm Coordinate Measurement Machines》,2016。
[5] 思看科技:AccuArm便携式三坐标测量机
免责声明
文中设备参数为规定测试条件下的标称性能,不等同于所有零件和现场环境中的最终测量结果。实际项目应结合零件尺寸、公差、材质、表面状态、测量环境及数据用途开展样件测试与测量能力验证。
产品对比
全部产品
中



浙公网安备 33011002015502号