TrackProbe跟踪式光笔测量系统

TrackProbe跟踪式光笔测量系统，由手持测量光笔i-Probe和新一代光学跟踪器i-Tracker组成，专为计量级精度测量量身打造。整个系统凭借其高精度、高便携性和高易用性的特点，能轻松应对大范围、远距离及复杂严苛环境的测量需求。

面对生产车间现场，从夹具调装到基准划线测量、从小型零部件到大型工件如工程机械结构件尺寸检测，TrackProbe跟踪式光笔测量系统都能随时随地、无所拘束地开展高精度三维测量。

广泛可扩展的测量范围

搭配具有超远可视范围的跟踪器i-Tracker，i-Probe测量光笔标准工作距离为6m，单站最远测量距离可至10m，实现大型项目一站式高精度三维测量。

凭借高精度的光学传感器技术和算法性能，能够精确地探测和测量被测对象的几何特征及形位公差。测量范围在49.0m³范围内，体积精度可达0.089mm；28.6m³范围内，体积精度可达0.067mm；10.4m³范围内，体积精度可达0.049mm。

i-Probe长500mm（不含测针长度），结合先进的算法技术，即便遮挡部分靶点也能精准探测，轻松获取基准孔、隐藏点等关键部位的三维数据，大大拓展测量区域，测量更灵活，尤其适合汽车零件、航空部件等复杂内部结构、管道、孔洞以及异形工件等的测量。

在跟踪器可视范围内，光笔可以自由地从一个位置移动到另一个位置，跟踪器能够实时追踪光笔的位置和姿态，并将其映射到对应的坐标系统中，从而保证测量的连续性，无需重新追踪光笔。

基于先进的软件和定位算法，i-Probe只需少量标记点即可实现轻松转站，大大提升了转站的便捷性，简化了测量流程，对于远距离、大尺寸工件数据获取优势显著。

手持测量光笔，无需固定安装，可以轻松被带至任何零部件位置，测量任意尺寸的物体。

采用无线模式，可摆脱传统硬测设备受机械结构或线缆的束缚，为现场测量提供更大的灵活性；面对特定使用场景，可选择有线模式，满足数据安全特殊要求。

结合TViewer软件能自动统一扫描数据与硬测数据于同一坐标系，实现扫描测量和接触式测量之间无缝切换，测量过程更流畅。

整机轻巧便携，性能稳定可靠，不易受震动、温度、湿度、光线等外部因素影响，结合动态测量功能，可以实时计算并校准位置偏差。在复杂车间现场或户外环境也能保持高精度动态跟踪测量，无论是复杂曲面、高精度零件或是大型结构件都能实现精准三维测量。